#D. 芯片测试

    传统题 1000ms 256MiB

芯片测试

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题目描述

nn块芯片,有好有坏,已知好芯片比坏芯片多。每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时,能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时,会随机给出好或是坏的测试结果(即此结果与被测试芯片实际的好坏无关)。给出所有芯片的测试结果,问哪些芯片是好芯片。

输入格式

输入数据第一行为一个整数nn,表示芯片个数。第二行到第n+1n+1行为nnn*n的一张表,每行nn个数据。表中的每个数据为0011,在这nn行中的第ii行第jj列的数据表示用第ii块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果,1表示好,00表示坏,i=ji=j时一律为11(并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试)。

输出格式

按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号

样例

3
1 0 1
0 1 0
1 0 1
1 3

数据范围

对于 100%100\% 的测试数据,2n202≤n≤20

卉图编程奥赛部4月月考

未参加
状态
已结束
规则
IOI
题目
5
开始于
2024-4-14 14:15
结束于
2024-4-14 17:15
持续时间
3 小时
主持人
参赛人数
24