#HJ1008. 芯片测试
芯片测试
题目描述
有块芯片,有好有坏,已知好芯片比坏芯片多。每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时,能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时,会随机给出好或是坏的测试结果(即此结果与被测试芯片实际的好坏无关)。给出所有芯片的测试结果,问哪些芯片是好芯片。
输入格式
输入数据第一行为一个整数,表示芯片个数。第二行到第行为的一张表,每行个数据。表中的每个数据为或,在这行中的第行第列的数据表示用第块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果,1表示好,表示坏,时一律为(并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试)。
输出格式
按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号
样例
3
1 0 1
0 1 0
1 0 1
1 3
数据范围
对于 的测试数据,